Scanology
Nimbletrack-CR
Precisión en los detalles, medición ilimitada
NimbleTrack-CR, un sistema de escaneo 3D inteligente e inalámbrico, está especialmente diseñado para la máxima captura de detalles. Basándose en las características avanzadas de la serie NimbleTrack (libertad inalámbrica, diseño ligero y portátil, y alta precisión), esta solución de próxima generación supera los límites de la digitalización 3D.
Equipado con cámaras industriales de alto rendimiento y algoritmos inteligentes, NimbleTrack-CR captura incluso los elementos más finos y las estructuras más intrincadas con un detalle y una precisión excepcionales. Ya sea para el control de calidad industrial o la preservación del patrimonio cultural, garantiza escaneos precisos y detallados, lo que abre nuevas posibilidades en la fabricación, la investigación y la restauración.
Medición industrial
Desarrollado con la experiencia de SCANOLOGY en metrología industrial, garantiza una excelente captura de detalles y una medición precisa, lo que lo convierte en una herramienta confiable para el control de calidad y la optimización de procesos.
Diseñado para piezas pequeñas y medianas, captura con precisión defectos menores y texturas intrincadas, lo que garantiza una medición precisa de curvas y contornos complejos, como álabes de turbinas.
Certificado
Precisión del sistema
Precisión para el modo de solo escáner
Arte y patrimonio cultural
Su modo de preservación del patrimonio cuenta con certificación láser de clase I, lo que garantiza un escaneo 3D sin contacto y sin daños. Desde delicada cerámica y cerámica pintada hasta intrincados patrones de bronce y estelas inscritas, el sistema captura los detalles de los artefactos con precisión metrológica, eliminando el riesgo de daños superficiales. Esta innovadora solución ofrece un enfoque seguro y confiable para la restauración arqueológica y la documentación del patrimonio cultural.<br>
Resolución máxima
para el modo de preservación del patrimonio cultural
y sin daños
Captura de detalles inigualable
NimbleTrack-CR está equipado con un sistema de imágenes ópticas de última generación y algoritmos inteligentes, mejorados por tecnología quad-cross y procesamiento de imágenes de subpíxeles para una precisión excepcional. Este sistema captura detalles finos con alta precisión, logrando “lo que ves es lo que obtienes”.
Ligero y portátil
Con un diámetro compacto de tan solo 230 mm y un peso de tan solo 1,3 kg, el NimbleTrack-CR ofrece máxima portabilidad y comodidad, y cabe fácilmente en un estuche de transporte.
Compatibilidad con múltiples materiales
Escanea textiles, cerámica, bronce, láminas de metal y más sin necesidad de recubrimientos en aerosol, protegiendo la superficie contra daños.
Flexible y todo en uno
El NimbleTrack-CR es un nuevo sistema de escaneo 3D inalámbrico inteligente de SCANOLOGY, especialmente diseñado para capturar detalles finos.
Admite escaneo ultrarrápido, escaneo hiperfino y escaneo de agujeros profundos, adaptable a diversas necesidades de escaneo.
Maneja diversos tamaños y tipos de piezas en entornos interiores y exteriores, incluso bajo la luz solar directa.
Medición inalámbrica
El NimbleTrack-CR incorpora computación en el borde para un procesamiento de datos rápido y estable. Las baterías integradas tanto en el escáner 3D como en el rastreador garantizan un escaneo continuo sin fuentes de alimentación externas, lo que ofrece mayor flexibilidad y eficiencia en el proceso de escaneo.
– Módulo de computación integrado
– Baterías integradas
– Diseño WNIC
Diseño ligero y portátil
Diseñado pensando en la portabilidad, el escáner es excepcionalmente compacto y ligero, y cabe perfectamente en un solo estuche para facilitar su transporte y almacenamiento.
– 230 mm de diámetro
– 1,3 kg de peso
Medición basada en software
Resolución inteligente
Indicadores de color
Muestra áreas escaneadas y no escaneadas en diferentes colores, lo que ayuda a los usuarios a identificar puntos ciegos o datos faltantes en tiempo real, mejorando la integridad y la precisión del escaneo.
Resolución múltiple en tiempo real
Permita a los usuarios ajustar la resolución en tiempo real durante el proceso de escaneo para que coincida con la complejidad de un objeto, garantizando que cada detalle crítico se capture con precisión.
Compatibilidad flexible
Detección inteligente de bordes
NimbleTrack cuenta con un módulo opcional de detección precisa de bordes, que se habilita mediante la medición en escala de grises. Los usuarios pueden inspeccionar con precisión características cerradas como perforaciones, ranuras, bordes y obtener información como posiciones y diámetros.
i-Probe 500
Se puede emparejar con una sonda de seguimiento i-Probe para sondear zonas inaccesibles, como perforaciones de referencia y puntos ocultos. Esta sonda de medición por contacto puede garantizar resultados precisos con opciones cableadas e inalámbricas.
Compatibilidad flexible
Medición multi-seguidor
Su rango de medición se puede ampliar dinámicamente añadiendo más i-Trackers para que pueda medir objetos a gran escala sin comprometer la precisión.
Medición automatizada
Basándonos en la nueva arquitectura de escáner 3D, hemos desarrollado un método de sujeción para la medición automatizada, haciéndolo más compatible con diversos tipos de robots. Sus conjuntos de objetivos distribuidos uniformemente en 360 grados permiten un seguimiento completo y preciso, facilitando la formación de sistemas de medición de lotes automatizados eficientes.
Escenarios de aplicación
Diseño artístico
Digitalización del patrimonio cultural
Inspección de piezas industriales
Investigación educativa
Especificaciones técnicas
Característica | Nimbletrack – CR Ultra – Escaneo rápido | Nimbletrack – CR Escaneo hiperfino | Nimbletrack – CR Escaneo de agujeros profundos |
---|---|---|---|
Fuentes de luz | 17 cruces láser azules | 7 líneas láser paralelas azules | 1 línea láser azul |
Precisión para el escáner – Solo modo (1) | Hasta 0.020 mm | ||
Precisión para el sistema (1) | Hasta 0.025 mm (0.0009 pulgadas) | ||
Distancia de seguimiento por i-rastreador | 3200 mm (126.0 pulgadas) | ||
Precisión volumétrica (Distancia 3.2 m) (2) | 0.064 mm (0.0025 pulgadas) | ||
Precisión volumétrica (Distancia 4.2 m) (2) | – | ||
Precisión volumétrica (Con sistema MSCAN) | 0.044 mm + 0.012 mm/m (0.0017 + 0.00014 in/ft) | ||
Precisión de la posición del agujero | 0.050 mm (0.0020 pulgadas) | ||
Clase láser | Clase II (seguro para ojos) | ||
Resolución máxima | 0.020 mm (0.0008 pulgadas) | ||
Parar a la distancia | 300 mm (11.8 pulgadas) | ||
Profundidad de campo | 400 mm (15.7 pulgadas) | ||
Área de escaneo máxima | 500 × 600 mm (19.7 × 23.6 in) | ||
Velocidad de marco de escaneo | 120 fps | ||
Tasa de medición máxima | 4,900,000 medidas/s | ||
Dimensiones i-escáner | 238 × 203 × 230 mm (9.4 × 8.0 × 9.1 in) | ||
Peso i-escáner | 1.3 kg (neto), 1.4 kg (con batería y módulo inalámbrico) | ||
Dimensiones i-rastreador | 570 × 87 × 94 mm (22.4 × 3.4 × 3.7 in) | ||
Peso i-rastreador | 2.2 kg (neto), 2.6 kg (con batería y módulo inalámbrico) | ||
Tamaño del estuche de protección | 1000 × 425 × 280 mm (39.4 × 16.7 × 11.0 in) | ||
Formatos de salida | .stl, .obj, .ply, .asc, .igs, .txt, .mk2, .umk, etc. | ||
Rango de temperatura de funcionamiento | -10 – 40 °C | ||
Modo de funcionamiento inalámbrico | i-escáner, i-rastreador, combinaciones multi-rastreador e inspección de borde | ||
Estándar inalámbrico | 802.11a/n/ac | ||
Modo de interfaz | USB 3.0, interfaz de red | ||
Patentes | CN109000582B, CN211121096U, CN210567185U, CN111678459B, CN114001696B, CN114554025B, CN114205483B, CN113514008B, CN114627249B, CN112867136B, CN218103220U, CN218103238U, CN307756797S, CN113340234B, CN112964196B, CN115289974B, CN113188476B, CN218411072U, CN115325959B, CN218584004U, CN115661369B, CN218734448U, CN115493512B, CN110992393B, CN116136396B, CN113432561B, CN219834226U, CN219829788U, CN116244730B, CN116206069B, US10309770B2, US11060853B2, KR102096806B1, EP3392831B1, US11493326B2 | ||
(1) ISO 17025 Acreditado: Basado en VDI/VDE 2634 Parte 3 y JJF 1951, rendimiento del error de sondeo (PS). | |||
(2) ISO 17025 Acreditado: Basado en VDI/VDE 2634 Parte 3 y JJF 1951, rendimiento del error de separación de la esfera (SD). |